Chroma Model 19501-k 局部放電測試儀，Chroma 19501-K 局部放電測試儀單機內(nèi)置交流耐壓測試（Hipot Test）與局部放電（Partial Discharge, PD）檢測功能，可提供 0.1kV~10kV 交流電壓輸出，漏電流測量范圍為 0.01µA~300µA?，F(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過ai1718的客服熱線聯(lián)系我們！

Chroma Model 19501-k 局部放電測試儀介紹

Chroma 19501-K 局部放電測試儀單機內(nèi)置交流耐壓測試（Hipot Test）與局部放電（Partial Discharge, PD）檢測功能，可提供 0.1kV~10kV 交流電壓輸出，漏電流測量范圍為 0.01µA~300µA，局部放電檢測范圍為 1pC~2000pC，專為高壓半導(dǎo)體元件與高絕緣材料的測試應(yīng)用而設(shè)計開發(fā)。
該產(chǎn)品設(shè)計符合 IEC60270-1 標(biāo)準(zhǔn)，針對高壓試驗技術(shù)中對局部放電測試的要求，采用窄頻濾波器（Narrowband）測量技術(shù)進行局部放電量檢測，并將測量結(jié)果以直觀的數(shù)值（pC）顯示在屏幕上，方便用戶清晰了解待測物的測試判定結(jié)果。
在產(chǎn)品設(shè)計上，除符合 IEC60270-1 標(biāo)準(zhǔn)外，還滿足光耦合器 IEC60747-5-5 及 VDE0884 標(biāo)準(zhǔn)要求，儀器內(nèi)部內(nèi)置 IEC60747-5-5 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測試方法，能滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求，并為用戶提供便捷的操作界面。
在生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測試時，若待測物未能正確、良好地連接測試線，將導(dǎo)致測試結(jié)果失敗，甚至存在漏測風(fēng)險。因此，測試前確保待測物與測試線的良好連接至關(guān)重要。Chroma 獨特的高壓接觸檢查功能（High Voltage Contact Check: HVCC）采用開爾文（Kelvin）測試方法，針對高絕緣能力的元件，在高壓輸出的同時同步進行接觸檢查，提升測試有效性與生產(chǎn)效率。
當(dāng)固體絕緣物中存在氣隙或絕緣層內(nèi)混合雜質(zhì)時，在額定工作高壓狀態(tài)下，由于氣隙處電場強度較高，會產(chǎn)生局部放電（Partial Discharge）。持續(xù)性的局部放電會長期劣化周圍絕緣材料，影響電氣產(chǎn)品的長期可靠性，進而引發(fā)安全事故。
應(yīng)用于電源系統(tǒng)的安規(guī)元件（如光耦合器），若元件長期發(fā)生局部放電，會破壞絕緣材料，導(dǎo)致絕緣失效，進而引發(fā)用戶人身安全問題。因此，IEC60747-5-5 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，在生產(chǎn)過程中（例行測試）必須 100% 執(zhí)行局部放電（Partial Discharge）檢測，在zui大絕緣電壓條件下，放電量不得超過 5pC，以確保產(chǎn)品在正常工作環(huán)境中不會發(fā)生局部放電現(xiàn)象。
局部放電測試儀主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關(guān)等高絕緣耐受能力的元件，提供高壓耐壓測試與局部放電檢測，保障產(chǎn)品質(zhì)量并提升產(chǎn)品可靠性。

19501-K 局部放電測試儀特點
單機內(nèi)置交流耐壓測試與局部放電檢測功能
可編程交流耐壓輸出：0.1kVac~10kVac
高精度及高分辨率電流表：0.01µA~300µA
局部放電（PD）檢測范圍：1pC~2000pC
高壓接觸檢查功能（HVCC）
符合 IEC60747-5-5、VDE0884、IEC60270 標(biāo)準(zhǔn)測試要求
內(nèi)置 IEC60747-5-5 測試方法
測量與顯示單元分離式設(shè)計
三段電壓測試功能
局部放電（PD）測量結(jié)果數(shù)值顯示（pC）
局部放電（PD）不良發(fā)生次數(shù)判定設(shè)定（1~10）
多語言操作界面（繁體中文 / 簡體中文 / 英文）
USB 畫面抓取功能
圖形化輔助編輯功能
標(biāo)準(zhǔn) LAN、USB、RS232 遠程控制接口

局部放電（Partial Discharge）釋義
局部放電指在絕緣物體的局部區(qū)域發(fā)生放電，且未在兩電極間形成固定放電通道的放電現(xiàn)象。
局部放電測試儀向待測物施加特定條件的電壓，測量其視在放電電荷量（PD），既驗證待測物承受瞬間高壓（耐壓測試）的能力，也驗證其在額定工作電壓下的絕緣完整性。局部放電測試能夠檢測待測物是否存在異常氣隙，通過施加略高于元件zui高額定工作電壓的局部放電電荷測試，檢驗電氣元件在正常工作電壓條件下的長期可靠性。但在實際生產(chǎn)中，絕緣材料內(nèi)部不可能wanquan不存在氣隙，因此 IEC60747-5-5 光耦合器標(biāo)準(zhǔn)針對局部放電測試，規(guī)定其放電電荷量不得大于（q???=5pC）。
絕緣固體中因氣泡產(chǎn)生局部放電的說明
空氣的介電系數(shù)低于絕緣材料的介電系數(shù)，因此氣泡處的電場強度會大于正常絕緣時的分壓。
空氣可承受的電場強度低于絕緣材料，容易在氣泡處產(chǎn)生氣泡放電（Void Discharge）。
其中，Ca 為絕緣介質(zhì)其余部分的等效電容；Cc 為氣隙等效電容；Cb 為絕緣介質(zhì)與氣隙串聯(lián)部分的等效電容。

局部放電測試儀校正
局部放電測試設(shè)備用于測量和判定微小放電量，其信號極其微弱且快速，因此局部放電測量設(shè)備必須經(jīng)過精確校正，才能確保局部放電發(fā)生時，高頻放電信號能夠被準(zhǔn)確測量。校正器上使用的標(biāo)準(zhǔn)電容 C?通常為低壓電容器，執(zhí)行局部放電（PD）校正時，局部放電測試儀需在不帶電狀態(tài)下進行，針對局部放電（PD）放電量 q?=V?C?（如圖所示）。
圖中各參數(shù)說明：U 為工作電壓；Z 為隔離阻抗容量；Ca 為待測物；Ck 為耦合電容；Zm 為測量系統(tǒng)的輸入阻抗；CD 為耦合裝置；Cc 為測試線；MI 為局部放電測試測量裝置；PG 為直角波產(chǎn)生器；V?為直角波電壓。

高精度測量
Chroma 19501-K 具備高精度的局部放電測量功能，設(shè)有兩個測量檔位，分別為 200pC 和 2000pC 檔位，測量范圍為 1pC~2000pC。在 200pC 檔位下，最佳分辨率為 0.1pC。高精度的測量能力及直觀的測量結(jié)果顯示，有助于對高絕緣物體進行微小放電量的判定與分析。

抗干擾結(jié)構(gòu)設(shè)計
局部放電測試儀配備窄頻域濾波器，用于測量被測元器件的微小放電量。然而，測試儀器在工廠環(huán)境中的使用與實驗室環(huán)境不同，工廠環(huán)境中的干擾因素相對較多，可能包括現(xiàn)場自動化機械運轉(zhuǎn)、馬達啟動或其他高頻輻射干擾。因此，在生產(chǎn)線上使用時，環(huán)境噪聲干擾會增加，進而影響局部放電（PD）的測量與判定。如何降低并避免局部放電設(shè)備的測量回路受到高頻輻射干擾，是生產(chǎn)業(yè)者與自動化設(shè)備商面臨的一大難題。
局部放電發(fā)生時，放電反應(yīng)速度極快（通常為納秒級），屬于高頻放電且信號極其微弱，因此容易受到周圍高頻輻射干擾，導(dǎo)致測量誤差，增加測量系統(tǒng)的不確定因素。如何在精確測量局部放電（PD）放電量的同時，避免受到這些高頻輻射干擾，是局部放電儀器設(shè)計技術(shù)中的一大挑戰(zhàn)。
Chroma 19501-K 局部放電測試儀充分考慮到設(shè)備使用環(huán)境中可能存在的不可避免的高頻輻射干擾，因此在產(chǎn)品設(shè)計架構(gòu)上采用測量與顯示單元分離式設(shè)計，將測量模塊外移，以zui接近待測物的方式進行測量，減少因測試線過長而容易受到周圍環(huán)境高頻輻射干擾的情況。同時，在測量線路設(shè)計上采用信號隔離方式，測試端以最短回路方式使用探針出線，并在低壓回路端采用銅環(huán)隔離環(huán)境輻射干擾，避免局部放電（PD）測量回路受到外部噪聲干擾，確保測量精度。

產(chǎn)品應(yīng)用
光耦合器標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用
IEC60747-5-5 標(biāo)準(zhǔn)中，已明確規(guī)定光耦合器相關(guān)的電氣安全要求、安全試驗及測試方法等內(nèi)容，為光耦合器元件提供了安全應(yīng)用的指導(dǎo)性準(zhǔn)則。Chroma 19501-K 局部放電測試儀符合該標(biāo)準(zhǔn)對電氣安全測試的要求及測試方法。標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，光耦合器在生產(chǎn)過程中必須 100% 執(zhí)行局部放電測試（Partial Discharge Test），并明確了局部放電測試電壓要求，供生產(chǎn)業(yè)者參考。生產(chǎn)測試時，局部放電測試電壓定義為：以 1.875 倍常數(shù)乘以標(biāo)稱的zui高絕緣工作電壓或重復(fù)發(fā)生的zui大絕緣峰值電壓（取兩者中的較高值），作為局部放電測試電壓，其電壓計算公式參考如下：
V?d = F×V??wm（若 V??wm>V????）
其中，F(xiàn) 為加嚴(yán)常數(shù)（常態(tài)測試 F=1.875；樣品測試 F=1.6；耐久性后測試 F=1.2）；V??wm 為zui高絕緣工作電壓；V????為重復(fù)發(fā)生的zui大絕緣峰值電壓。

符合 IEC 60747-5-5 與 VDE 0884 標(biāo)準(zhǔn)測試
Chroma 19501-K 產(chǎn)品針對光耦合器產(chǎn)業(yè)應(yīng)用，內(nèi)置 IEC60747-5-5 標(biāo)準(zhǔn)中要求的測試方法（b1）、方法（b2）與方法（b3）等三個測試模式，并以圖形顯示輔助用戶進行程序編輯設(shè)定，幫助用戶快速學(xué)習(xí)并便捷操作儀器，提升操作人員的使用效率。

三段電壓測試
除滿足光耦合器標(biāo)準(zhǔn)測試要求外，針對部分生產(chǎn)廠商在生產(chǎn)工藝中需要額外以高于標(biāo)準(zhǔn)的測試電壓執(zhí)行絕緣耐壓測試并加入局部放電（PD）放電量檢測，以提升元件質(zhì)量及工廠內(nèi)部加嚴(yán)品質(zhì)管控的需求，Chroma 19501-K 獨特的三段電壓測試功能，新增第三階段品質(zhì)管控測試電壓，可同時滿足標(biāo)準(zhǔn)要求與生產(chǎn)質(zhì)量管控的目的。（注：加嚴(yán)檢測后，生產(chǎn)業(yè)者仍需將測試電壓降至標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的測試電壓（V?d）再執(zhí)行檢測，確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)要求。）

局部放電（PD）不良發(fā)生次數(shù)判定設(shè)定
局部放電測試儀在元件絕緣品質(zhì)檢測中，必須能夠精確測量到元件的微小放電量。當(dāng)局部放電（PD）發(fā)生時，其信號極其微弱，且容易受到環(huán)境中高頻輻射干擾而造成測量偏差。因此，為降低生產(chǎn)過程中因外部干擾而產(chǎn)生的誤判行為，Chroma 19501-K 局部放電測試儀允許用戶設(shè)定局部放電（PD）不良發(fā)生次數(shù)的判定條件，確保局部放電測試儀測量到的放電量來自待測物，而非受到周圍環(huán)境的一次性干擾。
當(dāng)局部放電測試儀向固體絕緣施加高壓時，絕緣固體中的空隙放電量會隨著電壓變化而發(fā)生周期性放電，因此放電量相較于環(huán)境中的高頻噪聲是相對穩(wěn)定且持續(xù)發(fā)生的。故 19501-K 設(shè)計為：放電量必須累計在連續(xù) 4 個電壓半波周期內(nèi)至少發(fā)生一次，且超過zui大放電量，才會計數(shù)一次；若判定次數(shù)未連續(xù)發(fā)生，則局部放電（PD）不良發(fā)生次數(shù)判定將歸零并重新計數(shù)，直至連續(xù)發(fā)生次數(shù)超過用戶設(shè)定的次數(shù)，測試結(jié)果才判定為不良。

條件成立：在每個電壓半波周期均發(fā)生局部放電（PD）放電；或在連續(xù) 4 個半波周期內(nèi)發(fā)生第二次局部放電（PD）放電（zui大放電量≤5pC）。
條件不成立：在連續(xù) 4 個半波周期內(nèi)未發(fā)生第二次局部放電（PD）放電（zui大放電量≤5pC）。

高壓接觸檢查功能（HVCC）
針對高絕緣能力的元件，在高壓輸出時進行接觸檢查至關(guān)重要。Chroma 獨特的高壓接觸檢查功能（High Voltage Contact Check: HVCC）采用開爾文（Kelvin）測試方法，針對高絕緣能力的元件，在高壓輸出的同時同步進行接觸檢查，以提升測試可靠性與生產(chǎn)效率。

訂購信息

19501-K：局部放電測試儀
A195001：局部放電（PD）校正器
B195000：電磁遮蔽罩
B195001：高壓連接轉(zhuǎn)接座
B195002：DIP 測試治具

Model 19501-k 局部放電測試器規(guī)格

備注

*1：電流精度僅適用于容性負(fù)載。*2：局部放電（PD）測量使用符合 IEC60270 標(biāo)準(zhǔn)的校正脈沖發(fā)生器進行驗證，測量精度規(guī)格定義為校正發(fā)生器的相對誤差。*3：若接觸電阻 > 10kΩ，判定為開路；反之，若接觸電阻 < 100Ω，判定為合格。

• 規(guī)格如有變更，恕不另行通知。